Ölçmə sistemlərinin dəqiqliyinin yüksəldilməsi proseslərinin testləşdirilməsi
Müəllif (lər): M.M.İsayev
Nəşriyyat: Elm
Nəşr ili: 2018
Səhifə sayı: 200
-
18.03.2020
“İdarəetmə və optimallaşdırmanın sənaye tətbiqləri” VII beynəlxalq konfrans keçiriləcək -
16.03.2020
“İnformasiya və kommunikasiya texnologiyalarının tətbiqi üzrə 14-cü IEEE beynəlxalq konfransı” (AICT 2020) keçiriləcək -
13.03.2020
“Sərhədsiz elm: Xəzər perspektivi” mövzusunda beynəlxalq forum keçiriləcək -
25.02.2020
Kibertəhlükəsizlik mütəxəssisləri üçün beynəlxalq seminar və təlimlərə qeydiyyat başlayıb
1543486962.jpg)
